GB6649-1986 GB 6649-1986 半导体集成电路外壳总规范
标准编号：GB 6649-1986 时间：1986-07-31 大小：KB 浏览次数：69 下载次数：31| 资料名称： | GB6649-1986 GB 6649-1986 半导体集成电路外壳总规范 | |
| 标准类别： | 国家标准 | ||
| 语 言： | 简体中文 | ||
| 文件类型： | .rar | ||
| 整理时间： | 1986-07-31 | ||
| 等 级： |  |
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| 标准状态： | 已作废（仅供参考） | ||
| 作废日期： | （仅供参考） | ||
| 实施日期： | 1987-08-01（仅供参考） | ||
| 授权方式： | 免费下载 | ||
| 下载方式： | 直接下载 | ||
| 浏览次数： | 69次 |
| 标准简介： | GB 6649-1986 半导体集成电路外壳总规范 国家标准(GB) GB6649-1986 本规范适用于半导体集成电路外壳（以下简称外壳），它规定了对外壳进行质量评定时的总程序，并给出了下述测试和试验的总原则：电特性测试；气候和机械试验。对各类外壳，其详细规范和本规定构成对外壳质量的完整要求。 标准压缩包解压密码：www.51zbz.com |
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| 标准编号： | GB 6649-1986 正在载入地址 | |
| 标准名称： | 半导体集成电路外壳总规范 | |
| 英文名称： | Generic specification of packages for semiconductor integrated circuits（仅供参考） | |
| 替代情况： | 作废;（仅供参考） | |
| 采标情况： | （仅供参考） | |
| 发布部门： | 国家标准局（仅供参考） | |
| 页 数： | 24页（仅供参考） | |
| 首发日期： | （仅供参考） | |
| 复审日期： | （仅供参考） | |
| 提出单位： | （仅供参考） | |
| 归口单位： | （仅供参考） | |
| 主管部门： | （仅供参考） | |
| 起草单位： | 上海无线电十厂（仅供参考） | |
| 相关标准： | 无相关信息 | |
| 下载次数： | 31次 | |
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